２０００年１２月

			テクノス アクティブ・センシング３０１０Ｈ新発売についての記事が　「食品と開発」　に掲載されました。

			インライン外観自動検査システムテクノス アクティブ・センシング３０１０Ｈについての記事が 「月刊ディスプレイ」 に掲載されました。

	２０００年１０月

	１８日		第２４回　「紙パルプ技術協会　年次大会」に出展しました。 日時：２０００年１０月１８日[水]〜１０月１９日[木] 会場：仙台国際センター　「桜」･「橘」ホール

	１７日		従来の画像検査システムの精度を４００倍にする技術に関する特許を日本で取得しました。 この特許はアメリカ、ドイツ、イギリス、スイス、フランス、オーストリア及び韓国では取得済みで、本拠地の日本が加わり、これでまさにテクノスの画像処理技術は国際特許を達成しました。--詳細--

	１日		生産工程への欠陥品を原因から排除するＩＴシステム開発についての記事が「産業と環境」に掲載されました。

	２０００年９月

			アクティブ・センシング３０１０Ｈ新発売についての記事が　「安全と管理」　に掲載されました。

	２０００年７月

	１９日		技術セミナーを開催しました。 会期：２０００年７月１９日[水] 会場：弊社会議室 主催：テクノス

	１１日		高精度カメラで欠陥発見（テクノス アクティブ・センシング３０１０Ｈ）についての記事が　「日経産業新聞」　に掲載されました。

	５日		欠陥原因、元から絶つ（テクノス アクティブ・センシング３０１０Ｈ）についての記事が　「日刊工業新聞」　に掲載されました。

	５日		第１０回　ファインプロセス　テクノロジー・ジャパン に出展しました。 会期：２０００年７月５日[水]〜７日[金]１０：００〜１７：００ 会場：東京ビッグサイト　東展示棟　２−６ 主催：リード　エグジビション　ジャパン株式会社 http://www.reedexpo.co.jp/ftj/

	１日		欠陥完封ライン構築テクノロジテクノス アクティブ・センシング３０１０Ｈについての記事が「M＆E」７月号に掲載されました。

	２０００年４月

			「月刊カートンボックス」 ４月号 に弊グループ代表　山田吉郎のインタビューが掲載されました。

	２０００年２月

			超高精度自動外観検査システムとその応用についての記事が「オートメーション」２月号に掲載されました。

			高度な画像処理を実現するテクノス トレンド・センシング３０００Ｈについての記事が「M＆E」２月号に掲載されました。

	２０００年１月

	１０日		「オートメレビュー」　１月号に掲載されました。

	５日		像処理大転換の年についての記事が　「オートメレビュー」　１月号に掲載されました。