仕様
方法 電場スキャン方式
センサ部
検出方法 EFP送受信1体形
検出スリット 巾25mm 深さ85mm
表示機能 カートン検出表示
コントロール部
方式 マイクロコンピュータ制御
ストアードプログラム方式

コンピュータ方式

テクノスモデル945システム
プリプロセッサ フィールド演算用高速処理プロセッサ(専用ハードウエア)
設定 糊量レベル、長さ設定
キャリブレート 自動サンプル(8枚)自動キャリブレート方式
エンコーダ
方式 光学スリット
パルス数 1000PR
総合仕様
形状 本体 奥行450mm×幅430mm×高さ150mm
センサ 奥行125mm×幅70mm×高さ100mm
設置条件 温度範囲5〜40℃ 湿度50〜85% RH
電源条件 AC100V±5% 50/60Hz


  <御質問・お問合せ先>
株式会社テクノス
  本社
TEL:
FAX:
URL:
〒108-0014 東京都港区芝4-2-3
03-3453-9111
03-5484-6785
www.technos.jp
 
お問い合わせフォーム
テクノス   目視代替の自動外観検査システムメーカー  
トピックス製品情報検査事例ダウンロード採用情報会社情報お問い合わせ
   
  製品情報
 
  旧製品情報
  検査事例
  サンプル実証
  アマクリン体験
  目のニューロ体験
  携帯電話・デジカメ筐体 自動検査事例